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紅外干涉儀 適用于高精度紅外成像應用的測量方法
- 2023-06-30-

光學成像的應用廣泛,種類繁多。在系統的設計波長下進行測試對開發、對準和鑒定至關重要。

用于航空航天和國防的夜視、紅外和熱成像系統、光刻子系統、遙感望遠鏡和外來材料鑒定對波長有不同的要求,而它們都受益于在紅外干涉儀系統在設計波長下的測試。

圖片5

ZYGO 長期以來被公認為是世界上干涉測試儀器的先行者,已經設計和制造了許多特殊裝備的干涉儀系統,包括NIR、SWIR、MWIR 和 LWIR 波長的系統。  ZYGO 還設計和制造了一系列用于這些波長的參考光學器件(透射球面鏡和透射平面鏡)。

主要特點

· 工作波長范圍廣:

· NIR:  1.053 μm & 1.064 μm

· SWIR:  1.55 μm

· MWIR:  3.39 μm

· LWIR  10.6 μm

· 基于工作波長 的QFAS 十字快速對準視圖簡化了紅外測試系統和組件的設置。

· ZYGO 獨有的 QPSI? 采集技術,可在振動較常見的環境中實現可靠的測量,NIR、SWIR 和 MWIR 型號均配有這種技術。

· 可選的 DynaPhase? 瞬時數據采集技術,對振動不敏感,可在惡劣的環境中進行測量。

 


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